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TT260S涂层测厚仪   

TT260S涂层测厚仪   

TT260S 涂层测厚仪    采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和 硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的 厚度(如铬、锌、铜、铝 、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体 (如铜、铝、锌、锡 等)上非导电覆盖层的 厚度(如:珐琅、橡胶、油漆 、塑料等)。

TT260S涂层测厚仪    特点:
  1. 采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的 厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的 厚度;
  2. 可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02);
  3. 具有两种测量方式 :连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式 (SINGLE);
  4. 具有两种工作方式 :直接方式(DIRECT)和成组方式 (A-B);
  5. 设有五个统计量: 平均值(MEAN)、最大值( MAX)、最小值( MIN)、测试次数( NO.)、标准偏差( S.DEV);
  6. 可采用单点校准和 两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
  7. 具有存贮功能:可 存贮495个测量值;
  8. 具有删除功能:对 测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
  9. 可设置限界:对限 界外的测量值能自动报警;
  10. 具有电源欠压指示 功能;
  11. 操作过程有蜂鸣声 提示;
  12. 具有错误提示功能 ,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示;
设有两种关机方式 :手动关机方式和自动关机方式;
 
TT260S涂层测厚仪    测量原理:
  1. 磁性法(F型测头)
       当测头与覆盖层接 触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
2.  涡流法(N型测头)
利用高频交变电流 在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产
生电涡流,并对测 头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚
度。 
 
TT260S涂层测厚仪    可选探头参数表
测头型号
F400
F1
F1/90
F10
N1
CN02
工作原理
磁感应
电涡流
测量范围( um)
0-400
0-1250
0-10000
0-1250(铜上镀铬0-40um)
10-200
低限分辨力 (um)
0.1
0.1
10
0.1
1
示值误差
一点校准(um)
±[3%H+1]
±[3%H+10]
±[3%H+1.5]
±[3%H+1]
两点校准(um)
±[(1~3)%H+0.7]
±[(1~3)%H+1]
±[(1~3)%H+10]
±[(1~3)%H+1.5]
-
测量条件
最小曲率半径 (mm)
凸 1
凸1.5
平直
10
3
平直
基体最小面积的直 径(mm)
ф3
ф7
ф7
ф40
ф5
ф7
最小临界厚度 (mm)
0.2
0.5
0.5
2
0.3
无限制
 
覆盖层
基体
有机材料等非磁性 覆盖层 (如:漆料、涂漆、珐琅 、搪瓷、塑料和阳极化处理等)
非磁性的有色金属 覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、 锡、银等)
覆盖层厚度不超过  100µm
覆盖层厚度超过  100µm
覆盖层厚度不超过  100µm
覆盖层厚度超过  100µm
如 铁、钢
等磁性金属
被测面积的直径大 于30mm
F400 型测头 0~400µm
F1 型测头 0~1250µm
F1 型测头 0~1250µm
F10 型测头 0~10mm
F400 型测头 0~400µm
F1 型测头 0~1250µm
F1 型测头 0~1250µm
F10 型测头 0~10mm
被测面积的直径小 于30mm
F400 型测头 0~400µm
F400 型测头 0~400µm
F1 型测头 0~1250µm
F400 型测头 0~400µm
F400 型测头 0~400µm
F1 型测头 0~1250µm
如铜 、铝 、
黄铜 、锌 、锡
等 有色金属
被测面积的直径大 于5mm
N1 型测头 0~1250µm
仅用于铜上镀铬 N1 型测头 0~40µm
塑料、印刷线路非 金属基体
被测面积的直径大 于7mm
-
-
CN02 型测头10~200µm
 
TT260S 涂层测厚仪    标准配置:
名  称
数  量
备注
主机
1台
标准配置
F1或N1测头
1只
标准片
5片
基体
1块
产品包装箱
1个
使用说明书
1本
其他用途的测头、 软件
 
可选件

                       
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